首页>
产品中心>
无损检测>
涂层测厚仪>
leeb230涂层测厚仪（金属外壳分体N1型探头）
leeb230涂层测厚仪（金属外壳分体N1型探头）
leeb230涂层测厚仪（金属外壳分体N1型探头）
技术参数
|
测头类型
|
Leeb230
|
Leeb231
|
Leeb232
|
|
测头类型
|
F1
|
N1
|
F1或N1
|
|
工作原理
|
磁感应
|
电涡流
|
磁感应或电涡流
|
|
测量范围
|
0~1000μm
|
|
低限分辨率
|
0.1μm
|
|
示值误差
|
一点校准
|
±（3%H+1）
|
|
二点校准
|
±[（1~3%)H+1]
|
|
测试条件
|
*小曲率半径mm
|
凸1.5、凹9
|
|
*小面积直径mm
|
Φ7
|
|
基本临界厚度mm
|
0.5
|
|
工作环境
|
温度
|
0~40℃
|
|
湿度
|
20%~90%
|
|
电源
|
AA型碱性电池1.5V两节
|
|
外壳
|
金属外壳
|
|
外形尺寸
|
150×55.5×23mm（主机）
|
|
重量
|
240g
|
|
标准配置
|
主机、标准试片、基体、AA型碱性电池
|
|
选配
|
-
|
-
|
多种探头
|
