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Leeb451表面粗糙度仪 表面光洁度仪 粗糙度测试仪 测量仪
Leeb451表面粗糙度仪 表面光洁度仪 粗糙度测试仪 测量仪
Leeb451表面粗糙度仪 表面光洁度仪 粗糙度测试仪 测量仪将传感器放在工件被测表面上，由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统。
技术参数
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leeb451
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leeb452
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测量参数
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Ra、Rz、Rq、Rt
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Ra、Rz
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测量范围
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Ra:0.05-10.0μm；Rz:0.1-50μm
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取样长度
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0.25mm、0.8mm、2.5mm；
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评定长度
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1.25mm、4mm、5mm
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扫描长度
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6mm
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示值误差
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≤±15％
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示值变动性
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＜12％
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传感器类型
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压电晶体
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电源
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3.7V锂离子电池
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工作温度
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0ºC- 40ºC
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重量
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200g
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外型尺寸
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106×70×24mm
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标准配置
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主机、电源适配器、多刻线样板（粗糙度标准块）、说明书、合格证、保修卡、质量反馈书、手提箱等
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