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Leeb452 表面粗糙度仪 表面光洁度仪 粗糙度测试仪
Leeb452 表面粗糙度仪 表面光洁度仪 粗糙度测试仪
Leeb452 表面粗糙度仪 表面光洁度仪 粗糙度测试仪是专用于测量被加工零件表面粗糙度的新型智能化仪器。集当今微处理器技术和传感技术于一体,以先进的微处理器和优选的高度集成化的电路设计，构成适应当今仪器发展趋势的超小型的体系结构,可以完成粗糙度参数的采集、处理和显示工作。
适用于加工业、制造业、检测、商检等部门，尤其适用于大型工件及生产流水线的现场检验，以及检测、计量、商检等部门的外出检定。
本仪器给出的参数符合GB/T 3505-2000《产品几何技术规范、表面结构、轮廓法、表面结构的述语、定义及参数》、符合GB/T 6062-2002《产品几何量技术规范 （GPS）表面结构 轮廓法 接触（触针）式仪器的标称特性》。适用于加工业、制造业、检测、商检等部门，尤其适用于大型工件及生产流水线的现场检验，以及检测、计量、商检等部门的外出检定。不仅可以测量外圆、平面、锥面，还可测长宽大于80×30mm的沟槽。
技术参数：
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leeb451
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leeb452
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测量参数
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Ra、Rz、Rq、Rt
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Ra、Rz
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测量范围
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Ra:0.05-10.0μm； Rz:0.1-50μm
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取样长度
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0.25mm、0.8mm、2.5mm；
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评定长度
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1.25mm、4mm、5mm
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扫描长度
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6mm
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示值误差
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≤±15％
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示值变动性
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＜12％
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传感器类型
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压电晶体
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电源
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3.7V锂离子电池
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工作温度
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0oC- 40oC
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重量
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200g
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外型尺寸
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106×70×24mm
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标准配置
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主机、电源适配器、多刻线样板（粗糙度标准块）
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